FUJIFILM
Рентгеновская пленка FUJI (Фуджи)
Рентгеновская пленка Fuji сочетает в себе уникальные характеристики чувствительности и зернистости и может использоваться в самых разных областях при стабильно высоком качестве вне зависимости от исследуемого материала и источника излучения.
Fujifilm изготавливает рентгеновскую пленку по новой революционной технологии, которая сочетает новейшие достижения в области изготовления эмульсии и компьютеризированного производственного процесса.
Высокое качество изображения
Пленки FUJIFILM IX - с мелким зерном, что сильно упрощает поиск дефектов.
Высокая эффективность
Постоянные характеристики экспозиции при рентгеновской съемке различных деталей, что повышает эффективность процесса.
Конкурентная цена
Цена рентгеновской пленки Fuji значительно ниже аналогов других производителей пленки.
Рентгеновская пленка Fuji (Фуджи)
|
Пленка |
Относительная чувствительность U |
Возможные варианты упаковки |
|||
|
100 кВ прямое |
200 кВ со свинцом |
lr-192 со свинцом |
Co-60 со свинцом |
||
|
IX20 |
10 |
9 |
8 |
5 |
Листы: без прослоек |
|
IX25 |
20 |
17 |
15 |
10 |
Листы: без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb |
|
IX50 |
35 |
30 |
30 |
30 |
Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb |
|
IX80 |
55 |
55 |
55 |
55 |
Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb |
|
IX100 |
100 |
100 |
100 |
100 |
Листы: с/без прослоек, Envelopak, Envelopak+Pb |
|
IX150 |
200 |
200 |
170 |
170 |
Листы: с прослойкой, без прослоек |
|
IX29 |
22 |
22 |
22 |
22 |
Листы: без прослоек |
|
IX59 |
45 |
45 |
45 |
45 |
Листы: без прослоек, Envelopak |
Характеристики Рентгеновской пленки Fuji (Фуджи)
|
Пленка |
Область применения |
Характеристики |
|
IX20 |
Микроэлектронные детали Нейтронная радиография Важнейшие прецизионные отливки Исключительно мелкие керамические детали Композитные углепластиковые детали/ |
Пленка с одним слоем эмульсии, исключительно мелким зерном и средне-высокой контрастностью, предназначенная для областей применения, где необходимы качественные изображения. Один слой эмульсии сводит параллакс к минимуму и дает исключительно резкий вид с увеличением. IX20 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами |
|
IX25 |
Микроэлектронные детали Мелкие керамические детали Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом Области применения, требующие максимальной контрастности Рентгеновское облучение с высоким выходом и сверхвысоким напряжением |
Специальная пленка ASTM Fujifilm с самым мелким зерном и максимальной резкостью и разрешением. Подходит для исследования новых материалов, например, углепластиков, керамических изделий и микроэлектронных деталей. IX25 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами IX25 рекомендуется обрабатывать только автоматически |
|
IX50 |
Электронные детали Углепластиковые композиты Экспозиция с изотопами с высоким значением в кюри Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом |
Пленка ASTM класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью, исключительной резкостью и разрешением. Подходит для исследования любых материалов с низким атомным числом, где необходимо получить очень детальное изображение. Благодаря исключительно мелкому зерну очень подходит для областей с большой энергией, с низкой контрастностью объекта, где изо топы с высоким значением в кюри или мощные рентгеновские установки допускают ее использование. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. IX50 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами |
|
IX80 |
Сварные швы: металлы с небольшим или средним атомным числом Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом Производство и обслуживание самолетов Углепластиковые композиты |
Пленка ASTM класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью подходит для обнаружения мелких дефектов. Она пригодна для исследования материалов с низким атомным числом с помощью источников рентгеновского излучения низкого напряжения в кВ, а также для исследования материалов с более высоким атомным числом с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения с высоким напряжением в кВ. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. IX80 обычно используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами |
|
IX100 |
Сварные швы: металлы со средним или высоким атомным числом Отливки: металлы со средним или высоким атомным числом Производство и обслуживание самолетов Проверка артиллерии |
Пленка с очень мелким зерном и высокой контрастностью ASTM класса II подходит для исследования легких металлов с помощью слабоактивных источников излучения и для исследования толстых, плотных образцов с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения с высоким напряжением в кВ. Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. Хотя пленку IX100 обычно используют вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами, она пригодна для работы с флуоресцентными или флуорометаллическими экранами. |
|
IX150 |
Тяжелые, многослойные стальные детали Бетон со стальной арматурой Экспонирование с изотопами с низким значением в кюри и слабым рентгеновским излучением |
Высокочувствительная пленка с мелким зерном и высокой контрастностью ASTM класса III подходит для проверки самых разных образцов с помощью источников рентгеновского и гамма-излучения с низким и высоким напряжением в кВ. Она особенно полезна в том случае, если высокоактивный источник гамма-излучения недоступен, или при проверке очень толстых образцов. Кроме того, она применяется при использовании преломления рентгеновского излучения. IX150 используется вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами |
|
IX29 |
Отливки и прочие объекты разной толщины |
Пленка с исключительно мелким зерном и средне-высокой контрастностью ASTM класса W-A подходит для проверки объектов самой разной толщины (например, прецизионных отливок) с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения. IX29 можно использовать вместе с прямой экспозицией или свинцовыми экранами |
|
IX59 |
Отливки и прочие объекты разной толщины |
Пленка с исключительно мелким зерном и средней контрастностью ASTM класса W-B подходит для проверки металлических и стальных литых деталей разной толщины с низким атомным числом. IX59 можно использовать вместе с прямым экспонированием или свинцовыми экранами |